Domaine : Chimie - Thématique(s) : Comprendre et maitriser les outils
Stages courts
Initiation aux microscopies à champ proche : AFM (Atomic Force Microscope) et STM (Scanning Tunnelling Microscopy)
Au début des années 80, l’invention du microscope à effet tunnel (STM) a ouvert la voie à de nombreuses techniques expérimentales de caractérisation des surfaces à l’échelle du nanomètre comme la microscopie à force atomique (AFM) ainsi que la microscopie à champ proche optique (SNOM) …Dans le domaine des nanosciences, les microscopies à sonde locales tiennent une place importante. Le principe à la base de ces techniques consiste à placer une sonde effilée à proximité d’une surface où se trouvent les objets étudiés. Dans le cas de l’AFM, c’est la force entre la pointe et la surface qui est sondée alors que c’est le courant tunnel qui est sondé dans le cas de microscopie à effet tunnel (STM). Ces dispositifs expérimentaux sont des outils de caractérisation pour l’imagerie à l’échelle atomique, mais aussi pour la manipulation d’atomes ou de molécules.
OBJECTIFS ET COMPÉTENCES VISÉES
Cette formation, à la fois théorique et pratique, a pour but de comprendre les principes de fonctionnement de l’AFM et du STM.
Elle a aussi vocation à sensibiliser à l’interprétation des mesures (images, courbes de force, courbes I(V)…) et aux limitations des instruments. Il s’agira donc d’aboutir à une utilisation rationnelle du matériel tout en sachant exploiter les données expérimentales et reconnaître les artefacts de mesure.
PUBLIC VISÉ
Chercheur, ingénieur et toute personne cherchant à acquérir des connaissances de base dans le caractérisation des matériaux en physique, chimie et biologie
Pré-requis :
Minimum Bac + 2 en chimie ou chimie-physique
PROGRAMME
Jour 1 matin :
Cours AFM : principes fondamentaux de l’AFM
Jour 1 après-midi :
TP1 AFM : Comprendre le fonctionnement d’un CDROM
TP2 AFM : Cristaux de nanocristaux : introduction à la nanoindentation
Jour 2 matin :
Cours STM : principes fondamentaux du STM
Visites de différents bâtis expérimentaux sous ultravide
Jour 2 après-midi :
TP1 STM : Imagerie à l’échelle atomique – HOPG (Highly oriented pyrolytic graphite)
TP2 STM : Tamis moléculaire – STM à l’interface liquide-solide
Méthodes
A l’issue de la formation : le stagiaire sera capable de comprendre les principes de fonctionnement des microscopes à sonde locale AFM et STM.
DEBOUCHES :
Cette formation permet aux individus de sécuriser leur parcours professionnel en leur donnant les compétences nécessaires pour accompagner les entreprises dans les enjeux liés à leur secteur d’activité et s’adapter aux évolutions technologiques associées.
Les + de la formation
La formation, qui alternera cours et de travaux pratiques, sera assurée par un ingénieur spécialiste du domaine. De plus, elle sera supportée par l’utilisation à la fois d’un dispositif pédagogique et d’un dispositif dédié à la recherche. Enfin, une formation à la carte est tout à fait possible, pour cela, nous consulter.
Pour candidater
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Contactez-nousInformations
Catégorie de l’action de développement des compétences :
(Article L6353-1 du Code du Travail)
Action de formation
Effectifs : Min 3 personnes/Max 6 personnes
Documents : Supports de cours
Évaluation et validation :
Attestation de fin de formation
Possibilité de sessions sur-mesure
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LICENCE DE CHIMIE PARCOURS MONO DISCIPLINAIRE
Plusieurs rythmes possibles.
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LICENCE PROFESSIONNELLE CHIMIE ET PHYSIQUE DES MATÉRIAUX
Deux semestres
PREPA CAPES/AGREG